GUANGZHOU-RAID-i tahkismissüsteemide juhtiv Hiina arendaja kustutas just ärilise kosmoselennu kriitilise "ühe sündmuse efekti (vt) sertifikaadi", tänu GRGTesti kommertsruumi komponendi kvalifikatsiooniplatvormilt . võtmevõtme toele .
Miks näha sertifitseerimise küsimusi
Vt kvalifikatsioon on äriruumi tarneahela . väravavaht iga digitaalse IC, mäluseade ja toite MOSFET salvestussüsteemis tuleb osutuda immuunseks ühe sündmuse (SEU) (SEU) ja ühe sündmuse (SEL) suhtes raske ioonide kiiritamise . all
Tehniline tõke
Flip-chip-protsessorid esitavad ainulaadse väljakutse: aktiivsed transistorid ja mälupiirkonnad on maetud sadu mikromeetreid räni tagakülje alla, kuid tüüpilised XE-, KR- või BI-talad tungivad tungima vaid mõne kümnega mikromeetritega räni ., mis pakuvad ioone piisavalt, et põhjustada süveneid, on pikkade tööstusharude jaoks olnud pikkade tööstus.
GRGTEST One-Stop Lahendus
• kohandatud katsetahvlid ja kinnitusdetailide kujundus iga paketi tüübi jaoks
• Kohandatud TID + Vt katseplaanid, mis on joondatud missiooniorbiitide ja kiiritusspektriga
• Otsene pardal oleva seadme testimine kohandatud tütarkaardid ja püsivara spin-tsüklid
• Täpne raske ioonkiirendi seadistamine tagaküljele tungimiseks ja reaalajas vt tuvastamine
Tulemused
Esimese läbipääsuga edu ilma ümberpööramiseta, kvalifikatsiooniaja vähendamine ja koondatud testiplatvormi kulude . kulud kõrvaldades
Äriruumi komponentide kvalifikatsiooniplatvorm
GRGTest on juba sertifitseerinud protsessorid, mälestused ja elektriseadmed mitme satelliidi- ja kandevõime tootjate jaoks . Meie COTS-ile suunatud laboratooriumid katavad TID, vt sissepõlemist, sissepõlemist, ruumi-keskkonna simulatsiooni ja hävitavat füüsilist analüüsi, mis on suveaine terrestriaalsest laborist lend.. {5}.
