Teenuse sisu/ulatus ja testimiselemendid
a. TEM Thin{1}}Sektsiooni näidised
Kahe -kiirega fokuseeritud ioonkiirega mikroskoopia (DB-FIB) oluline rakendus on üliõhukeste proovide ettevalmistamine transmissioonielektronmikroskoopia (TEM) jaoks. GRGTEST Metrology võib selle rakenduse jaoks pakkuda järgmisi testimisüksusi:
Teenuse sisu
|
Testi üksus |
Pakkumise ühik |
Proovi tüüp |
|
Ränil (Si) põhineva proovi XS (ristlõige{0}}proovi ettevalmistamine) |
Iga (ea) |
Täiustatud protsessikiibid 14 nm ja alla selle; kiibid 28nm, 40nm, 55nm ja kõrgemal |
|
Ränil (Si) põhineva proovi PV (plaani{0}}vaade) proovi ettevalmistamine |
Iga (ea) |
Täiustatud protsessikiibid 14 nm ja alla selle; kiibid 28nm, 40nm, 55nm ja kõrgemal |
|
Mitte-ränipõhine proovi XS (ristlõige{1}}) proovi ettevalmistamine |
Tund (h) |
Mitte{0}}ränipõhised proovid, sealhulgas galliumarseniid (GaAs), galliumnitriid (GaN), ränikarbiid (SiC) jne. |
|
Mitte{0}}ränipõhine näidis-PV (plaani-vaade) proovi ettevalmistamine |
Tund (h) |
Mitte{0}}ränipõhised proovid, sealhulgas galliumarseniid (GaAs), galliumnitriid (GaN), ränikarbiid (SiC) jne. |
|
Spetsiaalne proovide ettevalmistamine |
Tund (h) |
Erinevad uued materjalinäidised, sealhulgas liitiumaku materjalid, grafeenelektroodi materjalid jne. |
b. FA leviala rist-jaotise analüüs
|
Testi üksus |
Pakkumise ühik |
Proovi tüüp |
|
fa |
Tund (h) |
Pooljuhtide näidised: vahvel, IC, komponendid, MEMS, laserid jne. |
c. Tavapärane ristlõike{1}}töötlus
|
Testi üksus |
Pakkumise ühik |
Proovi tüüp |
|
Sihitud ristlõike{0}}töötlus |
Tund (h) |
Pooljuhtide näidised: vahvel, IC, komponendid, PCB, MEMS, laserid jne; muud mitte-pooljuhtide näidised |
|
Mitte-sihitud ristlõike-töötlus |
Tund (h) |
Pooljuhtide näidised: vahvel, IC, komponendid, PCB, MEMS, laserid jne; muud mitte-pooljuhtide näidised |
Testimistsükkel
Standardne testimise tsükkel on 3 kalendripäeva. Erinõuete korral saame pakkuda pakkumisi erinevate reageerimisaegadega 48h, 24h ja 12h.
Meie eelised
GRGTEST Measurementi meeskonnaliikmetel on asjakohane kogemus täiustatud vahvlite tootmisprotsessides. Järgime kliendi-keskset lähenemist ning oleme pühendunud täpsete, õigeaegsete ja kõikehõlmavate testimisteenuste pakkumisele.
GRGTEST Measurement on Hiinas noteeritud suurim riigi{0}}kolmanda osapoole{1}}testimisettevõte. Meie platvormil on usaldusväärne haldusmehhanism ja laiaulatuslikud täielikud-protsesside testimise ja analüüsimise võimalused, mis võimaldavad meil pakkuda klientidele õigeaegset ja autoriteetset analüüsi terviklike projektide kohta.
Näidisnõuded
Veevaba; proovid ei tohi sisaldada vedelaid komponente; stabiilne ioonkiirguse all (mõned orgaanilised proovid ei ole tuvastatavad); mõõtmed üldjuhul ei ületa 10cm*10cm*5cm (pikkus*laius*kõrgus).
Kuum tags: db-fib (kahekiirega fokuseeritud ioonkiir), Hiina db-fib (kahekiirega fokuseeritud ioonkiir) teenusepakkuja
